Applicazione dei microscopi metallografici nei vari settori
I microscopi metallografici hanno avuto origine dalla metallografia. Sono strumenti professionali utilizzati principalmente per l'osservazione di strutture metallografiche, nello specifico per l'esame della microstruttura metallografica di oggetti opachi come metalli e minerali. Questi campioni opachi non possono essere osservati con i normali microscopi a luce di trasmissione. Pertanto, la differenza principale tra i microscopi metallografici e i microscopi ordinari è che i primi utilizzano l'illuminazione a luce riflessa mentre i secondi si basano sulla luce trasmessa.
I microscopi metallografici sono caratterizzati da stabilità eccellente, immagini nitide, alta risoluzione e un ampio campo visivo piatto. Le osservazioni possono essere eseguite non solo attraverso l'oculare, ma anche come immagini dinamiche in tempo reale sullo schermo di un computer o di una fotocamera digitale. Le immagini catturate possono essere modificate, salvate e stampate. Sono ampiamente applicati in hardware, sezionamento metallografico, componenti IC, LCD, LED e altri campi.
Esistono cinque tipi di obiettivi per microscopi metallografici: obiettivi per fluorescenza a campo chiaro EPI, obiettivi per campo chiaro/scuro BD, obiettivi a distanza di lavoro super lunga SLWD, obiettivi a lunga distanza di lavoro estesa ELWD e obiettivi con anelli di correzione. Nell'industria dell'hardware, gli obiettivi BD in campo chiaro/scuro possono essere selezionati per l'osservazione di parti hardware altamente riflettenti. Ad esempio, quando si osservano e misurano particelle conduttive nel settore LCD, il microscopio metallografico può essere dotato di DIC per ottenere visualizzazioni più stereoscopiche. Si tratta di una tecnica di microscopia a luce polarizzata che utilizza filtri accoppiati. Reindirizza il percorso della luce in base alle proprietà di birifrangenza. Si noti che la luce polarizzata di solito funziona solo se combinata con DIC e ha un valore limitato se utilizzata da sola.
Quando i microscopi metallografici vengono utilizzati per la misurazione e l'analisi di minuscole caratteristiche su componenti IC e sezioni metallografiche, è possibile adottare il software di misurazione intelligente Iview‑DIMS. Offre un'elevata precisione e riduce efficacemente gli errori di misurazione manuale. Il software è facile da usare e supporta la misurazione e l'analisi di punti, linee, archi, raggi, diametri, angoli e altre dimensioni geometriche. Può anche acquisire immagini di misurazione e generare rapporti di test personalizzati.
