L'applicazione dei microscopi a infrarossi nei microdispositivi dell'industria elettronica
Con lo sviluppo della nanotecnologia, il suo approccio di miniaturizzazione top-down viene sempre più applicato nel campo della tecnologia dei semiconduttori. In passato chiamavamo la tecnologia dei circuiti integrati "microelettronica" perché la dimensione dei transistor è nell'ordine dei micrometri (10-6 metri). Ma la tecnologia dei semiconduttori si sta sviluppando molto rapidamente, avanzando di una generazione ogni due anni, e le dimensioni si ridurranno alla metà di quelle originali, che è la famosa Legge di Moore. Circa 15 anni fa, i semiconduttori iniziarono a entrare nell’era submicronica, che è più piccola dei micrometri, seguita da un’era submicronica più profonda, molto più piccola dei micrometri. Nel 2001, la dimensione dei transistor era addirittura scesa a meno di 0,1 micrometri, ovvero meno di 100 nanometri. Pertanto, nell’era della nanoelettronica, la maggior parte dei futuri circuiti integrati saranno realizzati utilizzando la nanotecnologia.
Requisiti tecnici:
Attualmente, la principale forma di guasto dei dispositivi elettronici è il guasto termico. Secondo le statistiche, il 55% dei guasti dei dispositivi elettronici è causato dal superamento della temperatura rispetto al valore specificato e il tasso di guasto dei dispositivi elettronici aumenta esponenzialmente con l'aumento della temperatura. In generale, l'affidabilità operativa dei componenti elettronici è altamente sensibile alla temperatura, con una diminuzione dell'affidabilità del 5% per ogni aumento di 1 grado della temperatura del dispositivo tra 70 e 80 gradi Celsius. Pertanto è necessario rilevare in modo rapido e affidabile la temperatura del dispositivo. A causa delle dimensioni sempre più ridotte dei dispositivi a semiconduttore, sono stati posti requisiti più elevati alla risoluzione della temperatura e alla risoluzione spaziale dei dispositivi di rilevamento.
