Un'analisi comparativa dei vantaggi e degli svantaggi della microscopia a forza atomica e della microscopia elettronica a scansione
La microscopia a forza atomica è un microscopio a sonda a scansione sviluppato dal principio di base della microscopia a effetto tunnel. La microscopia a forza atomica può esaminare molti campioni e fornire dati per la ricerca sulla superficie e il controllo della produzione o lo sviluppo del processo che i tradizionali strumenti di rugosità della superficie a scansione e i microscopi elettronici non possono fornire. Quindi quali sono i pro e i contro tra i due? Diamo un'occhiata a quanto segue:
1. Vantaggi:
La microscopia a forza atomica presenta molti vantaggi rispetto alla microscopia elettronica a scansione. A differenza dei microscopi elettronici, che possono fornire solo immagini bidimensionali, i microscopi a forza atomica forniscono vere mappe tridimensionali della superficie. Allo stesso tempo, l'AFM non richiede alcun trattamento speciale del campione, come la ramatura o il carbonio, che possono causare danni irreversibili al campione. In terzo luogo, i microscopi elettronici devono funzionare in condizioni di alto vuoto e i microscopi a forza atomica possono funzionare bene a pressione normale e persino in ambienti liquidi. Questo può essere utilizzato per studiare macromolecole biologiche e persino tessuti biologici viventi.
2. Svantaggi:
Rispetto al microscopio elettronico a scansione (SEM), lo svantaggio del microscopio a forza atomica è che il raggio di imaging è troppo piccolo, la velocità è troppo bassa ed è troppo influenzata dalla sonda. La microscopia a forza atomica è un nuovo tipo di strumento ad alta risoluzione a livello atomico inventato dopo la microscopia a scansione a effetto tunnel. Può sondare le proprietà fisiche di vari materiali e campioni in regioni nanometriche, inclusa la morfologia, in ambienti atmosferici e liquidi, o condurre direttamente misurazioni su scala nanometrica. Manipolazione; è stato ampiamente utilizzato nei campi dei semiconduttori, dei materiali nanofunzionali, della biologia, dell'industria chimica, degli alimenti, della ricerca medica e degli esperimenti di ricerca di varie discipline nano-correlate negli istituti di ricerca scientifica ed è diventato uno strumento di base per la ricerca sulla nanoscienza . Rispetto alla microscopia a effetto tunnel, la microscopia a forza atomica ha un'applicabilità più ampia perché può osservare campioni non conduttivi. Il microscopio a forza di scansione, ampiamente utilizzato nella ricerca scientifica e nell'industria, si basa sul microscopio a forza atomica.
