Tipi e caratteristiche dei microscopi elettronici a scansione
Esistono vari tipi di microscopi elettronici a scansione e diversi tipi di microscopi elettronici a scansione hanno differenze di prestazione. Secondo il tipo di pistola elettronica, può essere diviso in tre tipi: pistola elettronica di emissione di campo, pistola a filo di tungsteno e esaboride di Lanthanum. Tra questi, la microscopia elettronica a scansione di emissione di campo può essere divisa nella microscopia elettronica a scansione di emissione di campo a freddo e nella microscopia elettronica a scansione di emissione di campo a caldo in base alle prestazioni della sorgente di luce. La microscopia elettronica a scansione di emissione a freddo richiede alte condizioni di vuoto, corrente di raggio instabile, durata della vita a emettitore corto e richiede una pulizia regolare della punta dell'ago, che è limitata all'osservazione di un'immagine singola e ha un intervallo di applicazioni limitato; Il microscopio elettronico a scansione di emissione del campo termico non ha solo un lungo tempo di lavoro continuo, ma può anche essere combinato con vari accessori per ottenere analisi complete. Nel campo della geologia, non dobbiamo solo osservare la morfologia preliminare dei campioni, ma è anche necessario analizzare altre proprietà dei campioni in combinazione con gli analizzatori, quindi l'applicazione della microscopia elettronica a scansione di emissione di campo termico è più estesa.
Sebbene la microscopia elettronica a scansione sia un nuovo arrivato nella famiglia del microscopio, la sua velocità di sviluppo è molto veloce per i suoi numerosi vantaggi.
Lo strumento ha un'alta risoluzione e può osservare i dettagli di circa 6nm sulla superficie del campione attraverso l'imaging elettronico secondario. Usando una pistola elettronica Lab6, può essere ulteriormente migliorato a 3nm.
Lo strumento ha una vasta gamma di cambiamenti di ingrandimento e può essere costantemente regolato. Pertanto, è possibile selezionare diverse dimensioni di campi di vista per l'osservazione, e immagini chiare con elevata luminosità che sono difficili da ottenere con la microscopia elettronica a trasmissione generale possono anche essere ottenute ad alto ingrandimento.
La profondità di campo e il campo visivo del campione sono grandi e l'immagine è ricca di senso tridimensionale. Può osservare direttamente superfici ruvide con ampie ondulature e immagini di frattura in metallo irregolare del campione, dando alle persone un senso di essere presente nel mondo microscopico.
La preparazione dei 4 campioni è semplice. Finché i campioni di blocco o polvere sono leggermente trattati o non trattati, possono essere osservati direttamente al microscopio elettronico a scansione, che è più vicino allo stato naturale della sostanza.
5. La qualità dell'immagine può essere efficacemente controllata e migliorata attraverso metodi elettronici, come la manutenzione automatica della luminosità e il contrasto, la correzione dell'angolo di inclinazione del campione, la rotazione dell'immagine o il miglioramento della tolleranza al contrasto dell'immagine attraverso la modulazione Y, nonché una moderata luminosità e oscurità in varie parti dell'immagine. Utilizzando un dispositivo di ingrandimento a doppio ingrandimento o un selettore di immagini, si possono osservare immagini con diverse magnificazioni contemporaneamente sullo schermo fluorescente.
6 può essere sottoposto a analisi complete. Installare uno spettrometro a raggi X dispersivi a lunghezza d'onda (WDX) o spettrometro a raggi X dispersivi di energia (EDX) per consentirlo di funzionare come una sonda elettronica e rilevare elettroni riflessi, raggi X, catodoluminescenza, elettroni trasmessi, elettroni augeria, ecc. Emessi dal campione. L'ampliamento dell'applicazione della microscopia elettronica a scansione a vari metodi di analisi microscopica e micro area ha dimostrato la multifunzionalità della microscopia elettronica a scansione. Inoltre, è anche possibile analizzare le micro aree selezionate del campione osservando l'immagine di morfologia; Installando l'attacco del supporto campione a semiconduttore, le giunzioni PN e i micro difetti nei transistor o nei circuiti integrati possono essere osservati direttamente attraverso un amplificatore di immagine di forza elettromobile. A causa dell'implementazione del controllo elettronico automatico e semi-automatico per molte sonde elettroniche al microscopio elettronico a scansione, la velocità dell'analisi quantitativa è stata notevolmente migliorata.
