Caratteristiche dei microscopi a sonda a scansione
La microscopia a scansione di sonda è il terzo microscopio per l'osservazione della struttura della materia su scala atomica dopo la microscopia a ioni di campo e la microscopia elettronica a trasmissione ad alta risoluzione. Prendendo come esempio lo Scanning Tunneling Microscope (STM), la sua risoluzione laterale è 0.1~0.2nm, e la sua risoluzione in profondità verticale è 0.01nm. Tale risoluzione può osservare chiaramente singoli atomi o molecole distribuiti sulla superficie del campione. Allo stesso tempo, il microscopio a sonda a scansione può anche condurre ricerche di osservazione in aria, altri gas o ambienti liquidi.
I microscopi a sonda a scansione hanno le caratteristiche di risoluzione atomica, trasporto atomico e nano-microelaborazione. Tuttavia, a causa dei diversi principi di funzionamento dei vari microscopi a scansione in dettaglio, le informazioni sulla superficie del campione riflesse dai risultati da essi ottenuti sono molto diverse. La microscopia a tunneling a scansione misura le informazioni sulla distribuzione delle stazioni di elettroni sulla superficie del campione, che ha una risoluzione a livello atomico ma non è ancora in grado di ottenere la vera struttura del campione. Il microscopio atomico rileva le informazioni di interazione tra gli atomi, quindi è possibile ottenere le informazioni sulla disposizione della distribuzione atomica sulla superficie del campione, ovvero la struttura reale del campione. Ma d'altra parte, il microscopio a forza atomica non può misurare le informazioni sullo stato elettronico che possono essere confrontate con la teoria, quindi i due hanno i loro vantaggi e svantaggi.
