Deep focus per microscopi ad immersione e STED
La messa a fuoco profonda degli obiettivi NA elevati produce una PSF (funzione di diffusione del punto) più piccola, che è fondamentale per i sistemi di microscopia ad alta risoluzione. In molti altri sistemi di microscopi, come i microscopi a immersione, viene utilizzato un coprioggetto per separare il liquido di immersione dal campione. Ciò può distorcere la PSF sul piano focale. Dimostriamo che la PSF asimmetrica è ulteriormente allungata dietro il coprioggetto. Inoltre, la microscopia STED (Stimulated Emission Depletion), ampiamente utilizzata con risoluzioni di decine di nanometri, consuma una PSF toroidale. Seguendo l'approccio proposto da P.Török e PRT Monro, modelliamo la focalizzazione profonda di un raggio di Gauss-Raggler. Illustra come generare una PSF circolare.
Messa a fuoco profonda con microscopia ad immersione ad alto NA
In VirtualLab Fusion, l'influenza dell'interfaccia coprioggetto su PSF può essere analizzata direttamente. La distorsione focale dietro il coprioggetto è dimostrata e analizzata in modo completamente vettoriale.
Focalizzazione di fasci di Gaussian-Laguerre nel microscopio STED
È stato dimostrato che la focalizzazione di fasci di Gaussian-Laguerre di alto ordine produce una PSF a forma di anello. La dimensione della PSF anulare dipende, tra le altre variabili, dal particolare ordine della trave.
