Breve introduzione delle caratteristiche del microscopio alla sonda di scansione
Il microscopio alla sonda di scansione (SPM) è un termine generale per il microscopio a tunnel di scansione e vari nuovi microscopi di sonda sviluppati sulla base del microscopio a tunneling a scansione (come microscopia a forza atomica (AFM), microscopia a forza laser (LFM), microscopia a forza magnetica (MFM), ecc.).). È uno strumento di analisi di superficie sviluppato a livello internazionale negli ultimi anni. È un prodotto ad alta tecnologia che integra luce, macchina ed elettricità applicando in modo completo moderni risultati scientifici e tecnologici come la tecnologia optoelettronica, la tecnologia laser, la tecnologia di rilevamento del segnale debole, la progettazione e l'elaborazione meccanica di precisione, la tecnologia di controllo automatico, la tecnologia di elaborazione del segnale digitale applicato, la tecnologia ottica applicata, la tecnologia ottica applicata per il controllo informatico e il controllo grafico. Questo nuovo tipo di strumento microscopico presenta vantaggi significativi rispetto ai microscopi e agli strumenti analitici precedenti:
1. SPM ha una risoluzione estremamente elevata. Può facilmente "vedere" gli atomi, il che è difficile da raggiungere per microscopi ordinari o persino microscopi elettronici.
2. SPM ottiene immagini in tempo reale e ad alta risoluzione della superficie del campione che mostrano veramente gli atomi. A differenza di alcuni strumenti analitici che calcolano la struttura superficiale di un campione attraverso metodi indiretti o computazionali.
3. L'ambiente di utilizzo di SPM è rilassato. I microscopi elettronici e altri strumenti hanno requisiti rigorosi per l'ambiente di lavoro e i campioni devono essere posizionati in condizioni di vuoto elevate per i test. SPM può funzionare nel vuoto, nonché nell'atmosfera, a bassa temperatura, temperatura ambiente, alta temperatura e persino in soluzioni. Pertanto, SPM è adatto per esperimenti scientifici in vari ambienti di lavoro.
