Applicazione del microscopio a infrarossi in piccoli dispositivi nel settore elettronico
Con lo sviluppo della nanotecnologia, il suo approccio di miniaturizzazione dall'alto verso il basso viene sempre più applicato nel campo della tecnologia dei semiconduttori. Chiamavamo la tecnologia IC "microelettronica" perché la dimensione dei transistor si trova nell'intervallo micrometro ({1}} metri). Ma la tecnologia dei semiconduttori si sta sviluppando molto rapidamente, avanzando di una generazione ogni due anni e le dimensioni si restringono a metà delle sue dimensioni originali, che è la famosa legge di Moore. Circa 15 anni fa, i semiconduttori hanno iniziato ad entrare nell'era secondaria del micron, che è più piccolo dei micrometri, seguita da un'era più profonda del micron, molto più piccolo dei micrometri. Con 2 0 01, la dimensione dei transistor era persino diminuita a meno di 0,1 micrometri, che è inferiore a 100 nanometri. Pertanto, nell'era della nanoelettronica, la maggior parte dei Future ICS verrà realizzata usando la nanotecnologia.
Requisiti tecnici:
Attualmente, la forma principale di guasto del dispositivo elettronico è il guasto termico. Secondo le statistiche, il 55% dei guasti del dispositivo elettronico è causato da una temperatura che supera il valore specificato e il tasso di fallimento dei dispositivi elettronici aumenta esponenzialmente con l'aumentare della temperatura. In generale, l'affidabilità operativa dei componenti elettronici è altamente sensibile alla temperatura, con una riduzione del 5% di affidabilità per ogni aumento di 1 grado della temperatura del dispositivo tra 70-80 gradi Celsius. Pertanto, è necessario rilevare rapidamente e in modo affidabile la temperatura del dispositivo. A causa delle dimensioni sempre più piccole dei dispositivi a semiconduttore, sono stati posti requisiti più elevati sulla risoluzione della temperatura e sulla risoluzione spaziale delle apparecchiature di rilevamento.
